큐알티, 테스트 과정 반도체 관리 시스템 개발


개별 DUT 전원 차단 기능으로 테스트 중 나타나는 열화 현상에 대한 별도 제어

[아이뉴스24 민혜정 기자] 반도체 신뢰성 분석 기업 큐알티가 테스트 중인 반도체(DUT) 관리 시스템을 개발했다.

큐알티는 개별 DUT 관리 시스템인 내장형 IDMS(Individual DUT Management System)를 개발했다고 24일 밝혔다.

IDMS는 개별 DUT에 대한 온도, 전력제어 및 모니터링이 가능한 시스템이다. 반도체 신뢰성 평가 중 문제가 발생된 시점, 위치 등에 대한 구체적인 정보를 얻어낼 수 있다. 개별 시료마다 독립적으로 일어날 수 있는 과다전류에 의한 열화현상을 조기에 파악할 수 있으며, 정확히 오류 발생 시점에 해당 개별 DUT 전원만을 차단할 수 있는 제어기능까지 갖추고 있다.

큐알티가 개별 DUT 관리 시스템인 내장형 IDMS(Individual DUT Management System)으로 반도체 테스트 시장 공략에 나선다. [사진=큐알티 ]

고객사가 의뢰한 반도체 신뢰성 평가에 대한 구체적인 테스트 로그 데이터를 제공함으로써 시험 결과에 대한 구체적인 분석을 할 수 있게 되는 핵심기술이다.

기존 신뢰성 평가는 시험보드에 인가되는 전압, 전류값은 측정할 수 있지만 개별 시료에 인가되는 구체적인 상세 데이터 측정값이 필요했다. 이점을 해결하기 위해 큐알티는 국내 최초로 소모전력, 온도 등의 중요 변수를 별도로 제어하거나 감시할 수 있는 IDMS를 개발해 상용화에 성공했다.

윤성조 큐알티 선임연구원은 "큐알티의 IDMS 시스템을 활용한 모니터링 기술은 고집적, 고정밀 칩들의 신뢰성 문제가 중요해지는 추세에 맞춰 구체적인 데이터를 제공하며, 반도체의 품질 향상에 기여할 것"이라고 말했다

/민혜정 기자(hye555@inews24.com)







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